產品型錄

全尺寸掃描電子顯微鏡

Full-size SEM

產品型號：CX-200Plus

3 nm的高解析度可獲得最佳影像
使用Nano Station 4.1軟體，易於透由滑鼠和鍵盤操作使用。
可以自動拍攝數十張和數百張照片，並且可以使用雙顯示模式同時查看SE和BSE模式。

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產品特點
規格

3 nm的高解析度可獲得最佳影像

使用Nano Station 4.1軟體，易於透由滑鼠和鍵盤操作使用。
可以自動拍攝數十張和數百張照片，並且可以使用雙顯示模式同時查看SE和BSE模式。

通過SE + BSE 混合技術獲得的每個影像都被合成並實現為單一影像。
雙顯示模式：使用雙顯示模式一目了然地檢查SE和BSE影像。
信號混合模式：將SE和BSE影像組合在一起可立即檢查形狀和成分分佈。

借助5軸（X，Y，Z，T，R）自動載台系統方便地移動樣品。
提供“點擊並移動”系統，使用者只需點擊螢幕即可移動樣品位置。

Magnification	15-300,000X
Spatial Resoultion	<3nm
Vacuum Mode	HV
Accleration Voltage	1 - 30kV (adjustable in 1kV scale)
Electron Source	Pre-Centered Tungsten Filament
Detector	SED(DP) BSED(DP)
Sample Size	160mm in Diameter
X,Y/ Z/ T Traverse R	0-60 mm / 5-60mm/ -20 - 90º 360º
Automation	Focus, Filament, Brightness/Contrast
Data Output Format	jpg, tiff, BMP
Dimensions	640 x 682 x 1430 mm
Weight	230 kg
OPTIONS	STEM CoolStage Panorama 2.0 EDS (Oxford, Bruker)

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