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2025-12-12
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【Liquid】MokuOS 4.1新增儀器功能!高速信號采集記錄回放儀

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基於可重構FPGA的並行IC測試驗證解決方案

 

隨著通信、數據處理等領域對AI晶元、RF晶片及矽光晶片等前沿晶元的性能要求不斷提高,晶元設計越發複雜,其驗證測試環節面臨許多挑戰。 例如,IC測試系統通常整合多品牌和類型電學測量儀器,難以統一自動化控制; 混合信號測試方案複雜,成本高昂; 前沿晶元對測量數據準確性和校準可追溯性的要求不斷提高。 應對這些挑戰,Liquid Instruments在11月25日舉辦了《基於可重構FPGA的並行IC測試驗證解決方案》線上研討會。 會上,LI應用專家Hank Long介紹了基於FPGA的Moku平臺在前沿IC晶元驗證測試中的應用與優勢,並演示了如何利用 Moku:Delta 的多儀器並行模式,在 FPGA 上同時部署運行波形發生器、示波器、頻率回應分析儀、鎖相放大器等IC測試常用功能,多個儀器共用觸發器和時鐘源,同時執行測試,顯著提高晶元研發及量產階段的測試系統效率和測量精度。

直播特點回顧

1. IC晶片測試配置方案

IC晶片測試通常是由多種儀器組成的測試矩陣,常用的設備包括波形發生器、頻譜分析儀、邏輯分析儀、示波器等。 通過這些設備,可以對IGBT、VCO、PLL等器件進行精確的特性測試。 例如,使用頻率回應分析儀對電源的穩定性進行評估,或者用鎖相放大器對相位雜訊進行測量。

 

 2.並行IC測試驗證解決方案的優勢 

傳統測試方案通常需要整合多品牌和多種類儀器,分別搭建類比和數位信號測試平臺,結合多套設備、機架以及信號路由配置,花費較高的測試時間和系統成本。

因此,並行測試是提高測試效率的有效解決方案,並行測試的主要優勢有:

  •  支援混合信號測試: 同時具備模擬和數位測量功能
  • 高精度時間同步: 多個儀器應共用觸發器和時鐘源,提高系統測量精度
  • 多儀器集成,自動化程度高: 多儀器使用統一程式設計語言配置,儀器間通過數位信號連接,減少物理接線和雜訊
 3.基於可重構FPGA技術的並行IC測試驗證平臺 

Moku 平台延續了「硬體可重構、軟體可重配、功能可重組、需求可定義“的核心設計理念,將靈活性與高性能深度融合,為研發與量產測試提供前所未有的效率提升。 通過可重構FPGA平臺,測試工程師可以快速切換不同的測試功能,優化測試流程,縮短研發週期。 Moku是基於FPGA的多功能電子測量平臺,通過其可重構硬體架構與軟體定義儀器技術,將超過15種儀器功能集成到一台設備中,允許使用者在同一平臺上同時進行多通道、高速測試,為IC測試提供了一整套靈活、高效且成本可控的並行測試解決方案。

  •   MokuDelta 配備8個輸入/輸出通道及支援2 GHz頻寬,32通道數位I/O,數字類比混合多個DUT測試理想工具
  •   單台Moku具備用於時域和頻域分析、信號生成和數據記錄功能,靈活部署自定義測試方案
  •   提供直觀易用的使用者操控介面 UI 及完善API介面進行自動化控制,提高研發及量產階段的測試效率

4. 儀器演示

 

在儀器演示環節,工程師展示了如何使用Moku實現信號生成、數據記錄和即時分析,進行VCO本徵雜訊測量、PLL控制環路的傳遞函數測量等實驗。

精彩問答

  • Q1:Moku 硬體平台架構如何實現多種測試測量,它如何在並行 IC 測試中脫穎而出?

    答:Moku 設備配備了高速 ADC 和 DAC,核心數位信號處理 FPGA,通過 FPGA 的可重構性在一台硬體設備上實現高速數據採集分析(時域/頻域)、信號生成(類比/數位)和即時閉環反饋控制等功能。 多個儀器功能可以組合並行無需在多個獨立儀器之間來回切換,大幅提升測試效率。 全新旗艦產品 Moku:Delta 支援8個通道並行輸入/輸出,32通道數位 DIO,2 GHz 輸入/輸出頻寬,在一台設備上即可實現混合信號同時採集、分析和生成,實現多個DUT同步測試。 相比較依賴傳統的單一功能設備組建的測試系統,不僅簡化系統搭建節約成本,而且顯著縮短從調試到量產的驗證週期。 
  • Q2:Moku 上能支援AI測試嗎?

    答:Moku平臺上已經全面引入人工智慧技術,為測試與測量帶來更高的智慧化和自動化能力。 首先,Moku 儀器功能中集成了神經網路,支援五個的全連接層,使用者可以將神經網路上傳到Moku硬體上運行,與Moku平臺上其他儀器功能無縫集成使用,用於優化信號分析、去噪、感測器條件和閉環反饋等應用。 Moku應用程式中還內置AI 助手,能夠與使用者文字交互即時問答,比如在測試過程中遇到的問題快速解答提供對應資源,提高實驗效率。 此外,Liquid Instruments創新性發佈了行業首創“生成式儀器Generative Instruments”技術。 使用者只需使用自然語言描述需求,AI 即可自動生成和配置符合任務要求的自定義儀器, 實現複雜的測試流程自動化調度控制,甚至可即時在可程式設計FPGA上部署自定義功能即時回應動態變化需求。 真正實現測試測量向“按需生成”智能化發展。
  • Q3:使用上位機進行二次開發,可以支持什麼語言?

    答:我們提供豐富的 API 支援,包括 Python、MATLAB 和 LabVIEW,同時也支援 C 語言和 Java 等主流程式設計語言,實現測試流程自動化、數據處理加速以及與現有軟體平臺的無縫對接。 詳細資訊請訪問:https://apis.liquidinstruments.com/api 來獲取詳細資訊。 

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